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便攜式薄膜厚度計，易于提高薄膜厚度測量的生產(chǎn)效率，這很容易 QNIx系列產(chǎn)品只能使用超輕型緊湊型儀器和探頭測量薄膜厚度，而無(wú)需攜帶厚膜厚度計。日本電測膜厚計QNIx系列 沒(méi)有電纜通過(guò)無(wú)線(xiàn)測量。除了便于將測量數據傳輸到個(gè)人計算機之外，它還有助于防止測量期間墜落事故。

新系統可實(shí)現從薄到厚的高精度測量 ·使用PC大大提高了操作能力和功能· 從薄到厚的高精度 日本電測膜厚計BTC-221 · 也可以在小面積部分進(jìn)行測量·特殊校準曲線(xiàn)易于編程 ·計數校正易于預熱GM管沒(méi)必要

可在短時(shí)間內（0.7秒）測量絕緣體上的金屬膜，具有高精度 在0.7秒內測量絕緣體上的金屬薄膜 - 讀取屏幕 - 易于校準和測量 - 可以立即查看圖形，輪廓等 - 異常值檢測功能 日本電測膜厚計RST-231

薄型便攜式薄膜厚度計，可通過(guò)短時(shí)間測量滿(mǎn)足時(shí)代需求 ·重量輕，體積小2.0 kg· 測量開(kāi)始的同時(shí)開(kāi)關(guān)，測量時(shí)間在1秒以?xún)? ·高穩定性（±1％）高精度 ·無(wú)損，因為晶體振蕩檢測方法 ·直讀式轉換不必要 日本電測膜厚計D-20

通過(guò)晶體振蕩 ，曲面/球面對也可以實(shí)現高精度和短測量時(shí)間 ·測量值顯示為數字型，易于讀取 ·開(kāi)啟時(shí)測量同時(shí)開(kāi)始，測量時(shí)間小于1秒 ·高穩定性（±1％）高精度 · 石英振蕩法無(wú)損檢測 ·可直接讀取因為轉換是不必要的 日本電測膜厚計DS-110

高速和可操作性 短時(shí)無(wú)損測量非常適合檢測 ·1秒內無(wú)損測量，適合檢測 ·使用PC校準·測量等簡(jiǎn)單操作 ·只需將探頭放在被測物體上并釋放即可自動(dòng)獲取測量值 ·特性曲線(xiàn)（校準曲線(xiàn)） 每個(gè)頻道都有70個(gè)標準內存，公司名稱(chēng)，部件號，批號 日本電測膜厚計DMC-211

輕巧，緊湊的機身高 可操作性和各種電鍍測量功能 - 重量輕3.0公斤，機身小巧 - 可在任何電鍍范圍 內測量 - 增加了高靈敏度范圍 - 寬范圍±15％ 碳化物范圍-C-墊片范圍標準 日本電測膜厚計CT-3

0.006至300微米， 可以高精度測量各種厚度的多層電鍍 - 易于操作的屏幕，操作簡(jiǎn)便 - 與傳統相比，電流精度大大提高 - 可以確定 測量部件的表面處理方法 - 多層膜可以設置多5層的 測量條件 - 測量通道可以注冊多達50個(gè)通道 日本電測膜厚計CT-4

簡(jiǎn)單，功能增強·Windows規格，數據處理簡(jiǎn)單 ·多可注冊50個(gè)測量通道 ·多層膜可設置多達5層的測量條件 ·出現異常值時(shí)，測量值不足報告顯示和警告聲音 日本電測膜厚計GCT-311

TQT-2NB57M2G4 TQT-5NB57M2G4 TQT-10NB57M2G4 TQT-20NB57M2G4 TQT-30NB57M2G4 TQT-50NB57M2G4 TQT-70NB57M2G4 日本電測膜厚計COSMOS-3X